• Vantagens de ser um membro IEEE!
  • Revista Enlaces
  • NoticIEEEro
  • IEEE Spectrum
  • IEEE Revista
  • IEEE Young Professionals
  • Contato
  • Facebook
IEEE Brasil
  • HOME
  • Conselho
    • O Conselho
    • Capítulos Profissionais
    • Comitê de Atividades Estudantis (SAC)
    • Eventos
    • Contato
  • Centro-Norte
    • A Seção
    • Capítulos Estudantis
    • Capítulos Profissionais
    • Grupos de Afinidade
    • Ramos Estudantis
  • Minas Gerais
    • A Seção
    • Capítulos
    • Ramos Estudantis
  • Nordeste
    • A Seção
    • Capítulos Estudantis
    • Capítulos Profissionais
    • Grupos de Afinidade
    • IEEE TISP Team
    • Ramos Estudantis
  • Rio de Janeiro
    • A Seção
    • Capítulos
    • Grupos de Afinidade WIE
    • Ramos Estudantis
  • Sul
    • A Seção
    • Capítulos Estudantis
    • Capítulos Profissionais
    • Calendário de Reuniões
    • Comitês
    • Grupos de Afinidade
    • Parcerias
    • Ramos Estudantis
  • Organização
  • História
  • Recursos
  • Ramos Estudantis
  • Senior member
  • Espaço IEEE no O Setor Elétrico

Palestra “Avances sobre la Detecction de Efectos de la Radiacion sobre los CIs en el Marco de los Proyectos STIC-AMSUD : Harmless y Factometrics”

28 Janeiro, 2016

Categoria: Palestras, Seção Centro-Norte Brasil

0
O Capítulo Profissional da IEEE CAS Centro-Norte Brasil Section  tem o prazer de convidá-los para uma palestra do Professor Carlos Cárdenas, da PUC do Peru, a ser realizada na próxima segunda-feira no prédio do Departamento da Ciência e da Computação da Universidade de Brasília (CIC/UnB).

Palestrante
:
Prof. Carlos SILVA CARDENAS
Pontificia Universidad Catolica del Peru (Director)
Maestria de Ingenieria de las Telecomunicaciones
 
Local: Auditório do Departamento de Ciência da Computação – Prédio CIC/EST – Universidade de Brasília
Horário: 14h30
Data: 01 de Fevereiro de 2016
 
Resumo da Palestra
 
It is well known that the permanent progress of integrated circuits manufacturing processes has a negative impact on the reliability of systems built from advanced circuits. The phenomena so-called Single Event Effect (SEE) gathers the different types of consequences resulting from the impact of a single energetic particle with a sensitive zone of a circuit.
 
Since 1993 the results of many “real-life” experiments (in balloons, aircrafts and high mountains) were published in the scientific literature. These experiments provided an objective feedback about the faults occurring in circuits including large sensitive areas, such as memories and Field Programmable Gate Arrays (FPGA), operating at different altitudes and allow validating solutions to guarantee the required dependability of targeted applications. Such experiments required huge numbers of parts because of the relatively low neutron flux (even at avionic altitudes) and the low sensitivity to SEUs of the used process technologies. Presently available technologies would allow designing real-life experiments with significantly lower number of parts and power consumption.
 
The researchers of the preceding STIC-AMSUD project (HARMLESS project) allowed to collected results concerning the effects of natural radiation on integrated circuits in different locations at high altitude in France, Peru and Argentina.
 
Factometrics project aims at comparing these results with accelerated irradiation experiments using test platforms already developed and validated at TIMA labs with irradiation facilities in Argentina and Brazil.
 
Another important goal of Factometrics project is the confrontation of experimental results in accelerated conditions and those issued from real environment during the high altitude test campaigns including ground and flight measurements, to those predicted by state-of-the-art tools, such as MUSCA SEP3 developed by ONERA DESP. This will allow improving the knowledge of the impact on up-to-date technologies and validate experimental techniques to accurately forecast.

Recent News

IEEE Seção Centro­-Norte Brasil – Chamada para Voluntários (Biênio 2023-­2024)

11 Agosto, 2022

Folder 7th edition of the workshop: WCNPS 2022

01 Agosto, 2022

PESQUISADORES… PARTICIPEM DO DESAFIO – IEEE Xplore

08 Maio, 2022

[WEBINAR] Smart Campus UFPA: um modelo para a Amazônia “Mobilidade Elétrica e a interface com as Smart Cities”

19 Abril, 2022





Deixe um comentário

O seu e-mail não será publicado. *

Nome*

E-mail*

Site

Comentário

Cancel reply

Busca

As mais lidas

ieee-wi

Vantagens de ser um membro IEEE

17.01.2013

  • 36
engenharia2

Indústria e conselho divergem sobre falta de engenheiros

01.05.2013

  • 31
Foto Grupo

Curso Subestações e Equipamentos Elétricos de Alta e Extr...

10.09.2014

  • 18
IEEE Brasil
SUBIR

Tags

2017 2019 2020 Chip In Sampa Conselho Eventos Guia HPSR IEEE Day IEEEorg IEEE PES IEEE PES Uno Lamm IEEE YP Ilha Solteira Instituto de Engenharia ISGT Notícias de outros veículos Palestras Parcerias Ramos da Seção Rio de Janeiro Ramos Estudantis Revista Nacional de Tecnologia da Informação Revista Época RNR & RNYP RNR 2015 Seção Bahia Seção Centro-Norte Brasil Seção Minas Gerais Seção Rio de Janeiro Seção Sul Brasil SIPDA SPS-UNICAMP UFABC Unesp UNESP Bauru Webinar WIE IEEE Young Professionals

As mais lidas

ieee-wi

Vantagens de ser um membro IEEE

17.01.2013

engenharia2

Indústria e conselho divergem sobre falta de engenheiros

01.05.2013

Foto Grupo

Curso Subestações e Equipamentos Elétricos de Alta e Extr...

10.09.2014

Comentários Recentes

28 Janeiro, 2016

1

Organização

[...] que irão revolucionar bastante esse campo”, explica Marcio Andrey Teixeira, membro do Instit...

28 Janeiro, 2016

31

Indústria e conselho divergem sobre falta de engenheiros

O sucesso na área técnica depende dos estágios...nenhum gestor contrata um engenheiro ou analista...

Mapa

  • Vantagens de ser um membro IEEE!
  • Facebook

© 2022 IEEE The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. - Latin America - Brazil Council

Close

Enter the site

Login

Password

Remember me

Forgot password?

Login